Étage de puissance LMG3410R070 au nitrure de gallium (GaN)

L'étage de puissance de Texas Instruments se caractérise par une fiabilité maximale et des performances optimisées pour toute alimentation

Image de l'étage de puissance GaN LMG3410R070 de Texas InstrumentsL'étage de puissance GaN LMG3410R070 de Texas Instruments avec protection et circuit d'attaque intégré permet à l'utilisateur d'atteindre des niveaux inégalés de densité de puissance et de rendement dans les systèmes d'électronique de puissance. Le LMG3410R070 présente des avantages intrinsèques par rapport aux transistors à effet de champ à structure métal-oxyde-semi-conducteur (MOSFET), notamment une capacité d'entrée et de sortie ultrafaible, un recouvrement inverse nul pour réduire les pertes de commutation jusqu'à 80 % et une faible oscillation du nœud de commutation afin de réduire les interférences électromagnétiques (EMI). Ces avantages permettent des topologies denses et efficaces, y compris la correction du facteur de puissance (PFC) de mât totémique.

Le LMG3410R070 offre une alternative intelligente aux transistors à effet de champ (FET) GaN traditionnels autonomes et montés en cascade, en intégrant un ensemble unique de fonctionnalités pour simplifier la conception, maximiser la fiabilité et optimiser les performances d'une alimentation. Une attaque de grille intégrée permet une commutation de 100 V/ns avec une oscillation VDS proche de zéro ; une limitation de courant < 100 ns offre une protection contre les événements « shoot-through » involontaires, un arrêt en cas de surchauffe empêche l'emballement thermique et des signaux d'interface système permettent des capacités de surveillance automatique.

Fonctionnalités
  • Permet des conceptions de conversion d'énergie haute densité :
    • Performances du système supérieures aux FET GaN autonomes ou montés en cascade
    • Boîtier QFN à faible inductance de 8 mm x 8 mm pour faciliter la conception et la configuration
    • Force de commande réglable pour des performances de commutation et le contrôle des interférences électromagnétiques
    • Signal numérique de sortie d'état de panne
    • Nécessité d'une alimentation non régulée de seulement +12 V
  • Processus GaN de TI qualifié grâce à la fiabilité accélérée des profils de mission à commutation dure dans les applications
  • Options du dispositif : protection verrouillée contre les surintensités
  • Protection robuste :
    • Ne requiert aucun composant de protection externe
    • Protection contre les surintensités avec une réponse < 100 ns
    • Immunité à la vitesse de balayage > 150 V/ns
    • Immunité aux surtensions transitoires
    • Protection contre la surchauffe
    • Protection de verrouillage en cas de sous-tension (UVLO) sur tous les pôles d'alimentation
  • Circuit d'attaque de grille intégré :
    • Inductance de source commune nulle
    • Temps de propagation de 20 ns pour un fonctionnement MHz
    • Tension de polarisation de grille ajustée au processus pour plus de fiabilité
    • Vitesse de balayage réglable par l'utilisateur de 25 V/ns à 100 V/ns
Applications
  • Alimentations industrielles et grand public haute densité
  • Convertisseurs multi-niveaux
  • Onduleurs solaires
  • Commandes de moteurs industriels
  • Alimentations secourues
  • Chargeurs de batterie haute tension

LMG3410R070 GaN Power Stages

ImageRéférence fabricantDescriptionRapport - Entrée:SortieConfiguration de sortieType de sortieQuantité disponiblePrixAfficher les détails
PWR MGMT MOSFET/PWR DRIVERLMG3410R070RWHTPWR MGMT MOSFET/PWR DRIVER1:1Haut potentielCanal N234 - Immédiatement$13.76Afficher les détails
Date de publication : 2018-12-06